9月22日，由山东理工大学分析测试中心与赛默飞世尔科技联合举办的“2026年度X射线光电子能谱学苑（淄博站）”在我校圆满落幕。本次活动采用线下线上同步形式开展，邀请到北京师范大学吴正龙教授及赛默飞应用专家围绕XPS分析技术要点、数据分峰拟合及材料分析特色应用等作专题报告，吸引了校内外众多师生及科研人员参与。

会议伊始，山东理工大学分析测试中心张明伟主任致辞。他首先对各位专家和参会人员的到来表示了热烈欢迎，对赛默飞世尔科技长期以来给予中心的支持表示感谢，并介绍了学校和分析测试中心基本情况。张明伟指出，XPS作为表面分析领域的重要技术手段，在材料科学、化学化工、半导体及能源等研究领域发挥着不可替代的作用。他希望以本次能谱学苑为契机，进一步加强校内外学术交流与技术合作，推动表面分析技术更好地服务科研创新与人才培养。

吴正龙教授作了题为《电子能谱XPS分析技术要点及在材料分析中特色应用》的主题报告。吴正龙长期致力于X射线光电子能谱、激光拉曼光谱及荧光光谱分析研究，现任全国表面化学分析技术委员会副主任委员，主持及参与多项电子能谱分析方法国家标准。报告中，他结合三十余年的电子能谱分析经验，系统梳理了XPS谱图分峰拟合的核心技术要点。他指出，分峰拟合结果的可靠性高度依赖对谱峰结构的正确认识，必须结合样品信息与参考谱数据进行综合判断。在确定元素价态时，除了由峰位置确定外，更应协同峰形状进行判定，提高准确率。

赛默飞应用专家孙文武作了《XPS数据分析及自动化分析介绍》的报告。他结合Avantage软件平台，讲解了光电子能谱数据处理的操作流程与自动化分析方案。赛默飞业务拓展经理张治忠以《赛默飞表面分析解决方案与新技术进展》为题，介绍了赛默飞在XPS、EDS等表面分析领域的最新技术进展与行业应用解决方案。两位专家均拥有丰富的电子能谱系统操作与行业应用开发经验，报告内容紧贴科研实操需求，受到与会者广泛关注。报告结束后，举行了培训结业仪式。

本次能谱学苑活动，是山东理工大学分析测试中心为提升大型仪器开放共享效能、推动表面分析技术交流而采取的重要举措之一。活动不仅让校内外科研人员有机会与国内顶尖XPS专家面对面交流，也进一步深化了高校与仪器厂商在技术培训领域的合作。