场发射扫描电子显微镜
发布人:系统管理员  发布时间:2018-11-19   浏览次数:0
仪器名称
场发射扫描电子显微镜 预 约  
仪器型号 美国FEI Sirion 200 仪器类别 分析仪器
仪器厂商 FEI香港有限公司 仪器原值 220.00万元
购买时间 2004年 启用时间 2004年
机组负责人 郭红 服务领域 材料、机械、化工、冶金、农工
所在单位 分析测试中心 有效期 0000-00-00
技术指标 分辨率1.5 nm;加速电压0.2-30 kV;放大倍数20-600,000倍。

主要功能 基于聚焦电子束在试样表面扫描产生二次电子,二次电子发射量随试样表面形貌而变化产生二次电子像的原理,可用于分析粉末材料的微观形貌、粒度大小,块体材料的表面形貌及界面特性等。应用于材料、化工、机械、物理、生物等领域。