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电镜及制样设备技术参数、应用领域、样品要求及运行情况简介

2015-10-30 阅读 28

一、场发射透射电镜:(Tecnai G2TF20 S-TWIN

技术参数

点分辨率:≤0.24nm ;晶格分辨率:≤0.102nm

加速电压:200kV

配置的扫描透射附件分辨率:≤0.19 nm

配置的能谱仪附件:带扫描功能

                  分析元素范围:Be4~U92; 能量分辨率(Mn-Ka):优于127eV

功能及应用领域

高分辨透射电镜可以从原子尺度上研究物质的微观、亚微观形貌、晶体结构,结合能谱仪可以分析化学成分,从而揭示物质变化的内在显微结构和宏观性能的关系。在凝聚态物理学、材料科学(金属合金材料、纳米材料、半导体、超导、陶瓷)、化学(催化剂材料)、地质学等学科有着非常广泛的应用。

样品要求

TEM可以检测块状、粉末等样品,对样品的要求,具体如下:(a)无磁性(不含Fe,Co,Ni);无放射性;无毒性;无挥发性物质;(b)固体薄膜或块状样品需磨成厚度约70μm以下;(c)粉末样品尺寸需研磨在约200 nm以下,并超声分散。

运行情况

此设备开始进入试运行阶段,但由于部分制样设备、附件未调试完毕,目前只能对粉末状、部分块状样品的微观形貌及结构进行分析测试。

 

 

二、低电压透射电镜(Tecnai G2 Spirit TWIN

技术参数

点分辨率:≤0.34nm

线分辨率:≤0.20nm

加速电压:120kV

配置的能谱仪附件:

分析元素范围:Be4~U92

能量分辨率(Mn-Ka):优于127eV

功能及应用领域

研究微纳米材料的形貌、结构和化学成分,揭示材料的微观结构与其宏观性能的关系。在材料、机械、轻工、生命、化工、资环、物理、电子、食品等多领域有着广泛的应用。特别在医学、生物学、临床、免疫、药品、食品、高分子等专业等低衬度样品观察上有着独特的优势。

样品要求

TEM可以检测块状、粉末等样品,对样品的要求,具体如下:(a)无磁性(不含Fe,Co,Ni);无放射性;无毒性;无挥发性物质;(b)固体薄膜或块状样品需磨成厚度约70μm以下;(c)粉末样品尺寸需研磨在200nm以下,并超声分散。

运行情况

此设备开始进入试运行阶段,但由于部分制样设备未调试完毕,目前只能对粉末状、部分块状样品的微观形貌、化学成分进行分析测试。

三 场发射环境扫描电镜(Quanta 250 FEG

技术参数

分辨率:

高真空模式:1.0nm@30kV 3.0nm@1kV(工作距离约 5mm)

低真空模式和环境真空模式1.4nm@30kV (工作距离约 5mm)3.0nm@3kV

背散射电子分辨率:2.5nm@30kV

随机配置的能谱仪附件:

分析元素范围:Be4~U92

                      能量分辨率(Mn-Ka):优于127eV

功能及应用领域

可广泛应用于金属材料、无机非金属材料、冶金、汽车、生物、医学等研究开发领域。适用对各种样品进行观察和分析,包括导电样品、不导电样品、含水含油样品、放气样品、加热样品、冷却样品等等。

样品要求

SEM可以检测块状、粉末等样品,对样品的要求,具体如下:(a)无磁性(不含Fe,Co,Ni);无放射性;无毒性;无挥发性物质;(b)块状样品的尺寸小于10mm,高度小于20mm

运行情况

此设备开始进入试运行阶段。

四 制样设备

4.1 高精密喷金仪(MSP-30T

4.1.1 功能及应用

适合扫描电镜及能谱分析前,不导电样品表面镀膜处理。

4.1.2 运行情况

已安装调试结束,进入试运行阶段。

4.2 超薄切片机(UC7+FC7

4.1.1 功能及应用

透射电镜的专用附属设备,用于将植物、生物、高分子材料等的超薄微结构观察前的切片制备。

4.1.2 运行情况

已安装调试结束,进入试运行阶段。

4.3 等离子清洗仪(Fischione Mode1020

4.1.1 功能及应用

用于清洗透射电镜、扫描电镜样品。

4.1.2 运行情况

已安装调试结束,进入试运行阶段。

4.4 超临界干燥仪(EM CPD300

4.1.1 功能及应用

用于扫描电镜分析前,含水样品的干燥。

4.1.2 运行情况

已安装调试结束,进入试运行阶段。

 

4.5 离子减薄仪(Gatan 695.C

4.5.1 功能及应用

用于透射电镜样品的制备。配有冷台,样品温度可控制在室温以下。

4.5.2 运行情况

已安装调试结束,进入试运行阶段。

4.6 电解双喷仪(TenuPol-5

4.6.1 功能及应用

用于透射电镜样品的制备,将样品减薄到透镜需要的薄区。

4.6.2 运行情况

近期开始安装调试。

4.7 离子研磨仪(IM4000

4.7.1 功能及应用

用于背散射电子衍射仪样品的制备。

4.7.2 运行情况

近期开始安装调试。