仪器名称
场发射透射电子显微镜 预 约  
仪器型号 Tecnai G2 F20 S-TWIN 仪器类别 分析仪器
仪器厂商 美国 FEI公司 仪器原值 748.00万元
购买时间 2014年 启用时间 2015年
机组负责人 冯柳 服务领域 材料、机械、化工、冶金
所在单位 分析测试中心 有效期 0000-00-00
技术指标

点分辨率,≤0.24nm

晶格分辨率,≤0.102nm

信息分辨率,≤0.14nm

加速电压,20kV-200kV

放大倍数,20 - 1,030,000

STEM分辨率,≤0.19 nm

STEM放大倍数,150 - 230M
主要功能 从原子尺度上研究物质的微观、亚微观形貌、结构和化学成分,从而揭示物质变化的内在显微结构和宏观性能的关系。在凝聚态物理学、材料科学(金属合金材料、纳米材料、半导体、超导、陶瓷)、化学(催化剂材料)、地质学等学科有着非常广泛的应用。

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